Конкурс Art of Failure проводится в рамках международного симпозиума IEEE по физическому анализу и анализу отказов интегральных полупроводниковых схем (IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits).

Конкурс Art of Failure проводится в рамках международного симпозиума IEEE по физическому анализу и анализу отказов интегральных полупроводниковых схем (IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits).
Конкурс Art of Failure проводится в рамках международного симпозиума IEEE по физическому анализу и анализу отказов интегральных полупроводниковых схем (IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits).
На этом конкурсе представляются имеющие художественную ценность фотографии необычных объектов и явлений, которые возникают на кристаллах микросхем и других полупроводниковых приборов, возникшие в результате неисправности или выхода из строя этих кристаллов. И вот как они выглядят!!!
Нет комментариев. Ваш будет первым!